HIOKI日置阻抗分析儀IM7581，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM7581，京都玉崎日本原裝進(jìn)口 HIOKI日置阻抗分析儀IM7581，京都玉崎日本原裝進(jìn)口
*快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
● 測量頻率1MHz~300MHz ● 測量時間：*快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量
主機(jī)不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。
能夠以測量結(jié)果為基礎(chǔ)推測5種等效電路模式的常數(shù)。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結(jié)果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結(jié)果是否在判定區(qū)域內(nèi)。
IM7580系列5種機(jī)型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。 和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準(zhǔn)確的測量樣品。
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。 “區(qū)域判定功能”是設(shè)置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結(jié)果。
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。 “峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值來設(shè)置范圍，并以IN/NG來顯示測量的峰值是否在判定區(qū)域內(nèi)。
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。 “SPOT判定功能”是選擇任意的掃描點和參數(shù)，*多進(jìn)行16點的判定。
使用比較器功能，可以確定測量值是否進(jìn)入了任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)。 適用于判定樣品是否合格的功能。
使用接觸檢查功能，能夠檢查樣品和測量端口的接觸狀態(tài)，并確認(rèn)接觸不佳情況和連接狀態(tài)。
測試頭的連接線連接阻抗分析儀。 稍微彎曲扭力扳手的手柄后擰緊螺母（0.56 N?m）。 請注意不要擰過頭。